对比
软件功能模块
TessentMemoryBIST是业界应用较广的存储器测试生成工具，可以灵活地在ASIC或IC中自动实现内嵌存储器阵列的RTL级BIST结构。TessentMemoryBIST支持多种测试算法，并支持用户自定义的测试算法。可以对一个或多个内嵌存储器自动创建BIST逻辑，完成BIST逻辑与存储器的连 接，它能够在多个存储器之间共享BIST控制器，实现并行测试，从而显著缩短测试时间和节约芯片面积。另外，它的BIST结构中还包括故障的自动诊断功 能，方便了故障定位和开发针对性的测试向量。
TessentFastScan是业界杰出的测试向量自动生成（ATPG）工具，为全扫描IC设计或规整的部分扫描设计生成高质量的测试向量。TessentFastScan支持所有主要的故障类型，它不仅可以对常用的Stuck-at模型生成测试向量，还可针对transition模型生成at-speed 测试向量、针对IDDQ模型生成IDDQ测试向量。此外TessentFastScan还可以利用生成的测试向量进行故障仿真和测试覆盖率计算。另外，TessentFastScanMacroTest模块支持小规模的嵌入模块或存储器的测试向量生成。针对关键时序路径，TessentFastScan CPA模块可以进行全面的分析。
TestKompress的EDT（Embedded Deterministic Test）算法使它在ATPG领域拥有无以伦比的技术优势，它在保证测试质量的前提下显著地（目前可达到100倍，下一版本目标是1000倍）压缩测试向 量数目，从而大大提高产品测试速度，降低测试成本。它提供的嵌入式压缩引擎模块是一个通用IP，可以很方便地集成到用户的设计。
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