模块说明
TessentMemoryBIST是业界应用较广的存储器测试生成工具，可以灵活地在ASIC或IC中自动实现内嵌存储器阵列的RTL级BIST结构。TessentMemoryBIST支持多种测试算法，并支持用户自定义的测试算法。可以对一个或多个内嵌存储器自动创建BIST逻辑，完成BIST逻辑与存储器的连 接，它能够在多个存储器之间共享BIST控制器，实现并行测试，从而显著缩短测试时间和节约芯片面积。另外，它的BIST结构中还包括故障的自动诊断功 能，方便了故障定位和开发针对性的测试向量。