当前位置：软服之家 > 全部软件分类 > EDA/芯片/IC/半导体 > 芯片制造良率分析

芯片制造良率分析

芯片制造良率分析软件（Yield Analysis Software）是用于评估和优化集成电路（IC）设计在生产过程中良率的工具。良率（Yield）是指在半导体制造过程中，合格芯片与总生产芯片数量的比例，通常是衡量芯片制造工艺和设计质量的重要指标。随着工艺节点的不断微缩和制造复杂度的增加，良率分析变得尤为重要，因为稍微的设计缺陷或制造问题就可能导致大量的芯片报废。良率分析软件通过模拟和分析设计中的各种变量，评估生产中可能出现的失效模式，预测良率，并提出优化措施。它们能够帮助设计团队发现潜在的问题，减少设计缺陷，改进制造流程，从而提高生产良率。

芯片制造良率分析产品

Calibre LFD 工具可捕获设计对制造工艺窗口效应的响应，使工程师能够在流片之前识别和修复可变性、可靠性和制造良率问题。Calibre LFD 工具提供了一个虚拟晶圆厂，可预测“制造时”光刻工艺的可变性对设计的影响。...

芯片制造良率分析

44浏览 | 厂商已入驻提供最新报价

免费询价

Synopsys YieldManager

YieldManager 是一款可定制的良品率管理软件系统。它使得工程师们能够快速收集、关联、分析和共享关键数据，以帮助集成电路 (IC) 制造商实现并保持高良品率。其数据类型包括缺陷、检查、bin 排序、位元图、参数、MES 和最终测试。YieldManager 既能保持不同数据源的高度一致性，又...

芯片制造良率分析

32浏览 | 厂商已入驻提供最新报价

免费询价

Synopsys Odyssey

Synopsys 的 Odyssey 产品系列包括多个组成部分，可满足半导体晶圆制造的特殊要求。Odyssey Defect 是经生产验证的缺陷数据管理解决方案，全球逾 35 个制造工厂选择了此方案。Odyssey 也是一个完整的在线良率管理系统，可分析半导体生产和测试数据，从而快速地找出影响良率的...

芯片制造良率分析

52浏览 | 厂商已入驻提供最新报价

免费询价

Synopsys Yield Explorer

Yield Explorer 将物理设计流程、晶圆制造和晶圆及芯片级检测等不同来源的相关良率数据集中到一个单独的数据库。作为 Synopsys TetraMAX 诊断解决方案的补充，Yield Explorer 及时解决了当今产品工程设计团队面临的复杂难题。用户可以使用尽可能广泛的数据，从而能够在面...

芯片制造良率分析

41浏览 | 厂商已入驻提供最新报价

免费询价

Pegasus CMP Predictor

Cadence Pegasus®™ CMP Predictor 可预测整个层堆栈的化学和机械抛光 (CMP) 变化及其对设计的潜在影响。它将制造工艺变化的不确定性转化为可预测的影响，然后在虚拟填充定义和设计阶段将这些影响降至最低，从而大大提高整体设计性能和产量。Pegasus CMP 传统上用于芯片...

芯片制造良率分析

35浏览 | 厂商已入驻提供最新报价

免费询价

ICSpider是一款用于产品芯片成品率和性能诊断的定制化测试芯片设计工具。产品导入和量产阶段，版图的物理环境变得更加复杂多样，每个产品芯片的设计成熟度和工艺敏感度都不同，会出现很多在工艺开发阶段未发现或者未重视的问题。通过ICSpider，客户可以在保证产品芯片前道工艺层不变的前提下，用最少的代价...

芯片制造良率分析

30浏览

免费询价

芯片制造良率分析软件顾问

返回顶部