Mentor IC综合测试工具 – Tessent 组合ATPG生成工具TessentFastScan

TessentFastScan是业界杰出的测试向量自动生成（ATPG）工具，为全扫描IC设计或规整的部分扫描设计生成高质量的测试向量。TessentFastScan支持所有主要的故障类型，它不仅可以对常用的Stuck-at模型生成测试向量，还可针对transition模型生成at-speed 测试向量、针对IDDQ模型生成IDDQ测试向量。此外TessentFastScan还可以利用生成的测试向量进行故障仿真和测试覆盖率计算。另外，TessentFastScanMacroTest模块支持小规模的嵌入模块或存储器的测试向量生成。针对关键时序路径，TessentFastScan CPA模块可以进行全面的分析。