Synopsys 的 Odyssey 产品系列包括多个组成部分,可满足半导体晶圆制造的特殊要求。Odyssey Defect 是经生产验证的缺陷数据管理解决方案,全球逾 35 个制造工厂选择了此方案。Odyssey 也是一个完整的在线良率管理系统,可分析半导体生产和测试数据,从而快速地找出影响良率的设备和生产过程。
1.简单易用的Odyssey 用户界面,可帮助生产人员实现较高的生产率
2.工具中立,平等支持所有检查和复审工具 使并行缺陷分析实现自动化,以缩短诊断周期时间
3.业内顶尖的功能,包括易于创建和维护的分析模板,这些模板可在整个晶圆厂内共享使用,并且可以由晶圆厂的良率变化触发
4.基于服务器的实时缺陷根源分析 (DSA),SPC 功能及自动晶圆取样和输出(处置)
5.交互式电子表格和图表可在非常短时间内帮助追踪到问题的根源
6.稳定的 ORACLE 数据库及高度可靠的产品,无需对全天候运营晶圆厂进行太多维护支持
7.集成的自动化功能,可使用户更快地进行合作,在几分钟(而非几天!)之内就完成根本原因的分析
8.现已支持在 LINUX 上使用。