随着半导体工艺技术节点的日益成熟和复杂,在芯片设计过程中根据需要提供各种复杂的标准单元库。多种库之间的一致性和有效性必须得到保证以消除不必要的设计延迟。LibWiz为标准单元库不同PVT组合之间的趋势分析提供了一个解决方案,以确保完整性。LibWiz基于分析结果还支持生成芯片设计者所需要的数据手册。此外,LibWiz支持从完全定制的物理布局设计中无缝生成简化版图从而降低设计成本。
1.采用交叉检查方法,在每个单元库中提取常用主要元素并检查库之间的一致性。
2.支持按照顺序过程来检查功能的一致性及每个Cell的属性,如面积、管脚列表、管脚属性如管脚方向和时序路径(Timing Arc)等。
3.基于分析结果支持生成芯片设计者所需要的Library数据手册。
4.支持从全定制的版图中高效地抽取示意版图。
5.提供友好的图形用户界面环境,支持快速debug并生成HTML、PDF和TXT格式的文件以方便检查分析。
避免库中不同View之间的信息不一致
确保库的完整性
支持数据手册生成
从物理版图中生成LEF
标准单元库和IO库设计
模拟/混合信号IP设计