Calibre OPCverify 功能模块说明:全芯片光刻仿真与 OPC 后验证

产品定位

Calibre OPCverify 是西门子 EDA(原 Mentor Graphics)Calibre 计算光刻套件中的验证工具,官方将其定位为强大的全芯片仿真和光刻分析产品。在低 k1 光刻工艺下,分辨率增强技术(RET)应用日益复杂,掩模规则约束、分段、建模与计量误差都可能放大硅片失效风险,该产品在版图送往掩模或晶圆制造前对光学邻近校正(OPC)结果进行验证,用于提前检测潜在故障。

核心能力

OPC 后验证与故障检测

产品对 OPC 校正后的全芯片版图执行验证分析,在制造前定位不满足规格的区域,检测桥接、挤压、关键尺寸偏差等光刻相关故障,降低掩模返工与良率损失风险。

全芯片光刻仿真与晶圆轮廓模拟

支持先进工艺条件下的晶圆轮廓模拟,覆盖包括浸没式光刻在内的成像条件,对 OPC 结果在光刻过程中的实际表现进行建模,评估修正后的图形保真度。

关键尺寸与图形质量检查

对关键尺寸(CD)误差、间距错误、桥接与挤压等进行检查,并提供预定义与自定义检查脚本,适配不同工艺与设计的验证要求。

与 OPC 工具协同的流程集成

作为 Calibre nmOPC 的配套工具,支持多种 OPC 使用模式,包括 OPC 配方验证、掩模签核以及与光刻友好设计相关的检查,衔接计算光刻校正与制造签核流程。

层次化处理与高可扩展性

采用 Calibre 层次化多边形处理引擎,为光刻仿真提供统一、精确的建模基础,具备高处理可扩展性,满足大规模掩模数据的交付周期要求。

先进节点与 EUV 支持

面向先进工艺节点持续演进并支持 EUV 光刻的验证需求,西门子在官方资料中持续介绍面向更先进节点的改进,保持对前沿制造工艺的覆盖。

适用场景

该产品适用于晶圆制造与光刻数据准备流程,面向代工厂、IDM 与无晶圆厂设计团队的掩模数据签核环节,是先进工艺节点光刻数据放行前的关键验证工具。

使用说明

Calibre OPCverify 为商业软件,随西门子 Calibre 设计解决方案授权使用,通常在标准计算平台上运行,无需专用硬件,部署与配方开发可由具备计算光刻经验的应用工程师完成。

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