论坛精彩讲稿回顾|电子系统可靠性测试用例设计误区

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论坛精彩讲稿回顾|电子系统可靠性测试用例设计误区

 

导语

可靠性测试并不是越多越好,方向错了,数据再多也白搭。

在近日举行的「2024 可靠性应用技术国际论坛」上,瑞迪航科(北京)技术有限公司的武晔卿工程师分享了《电子系统可靠性测试用例设计误区》的主题演讲,直击当前测试设计中的常见错误思维,令人茅塞顿开。

 

本文将为你提炼演讲中的三大核心误区与解决思路,帮助你避开测试设计的“暗礁”。

 

主题

电子系统可靠性测试用例设计误区

 

嘉宾介绍

武晔卿;

研究员;

电子可靠性技术专家;

瑞迪航科(北京)技术有限公司 总经理;

专注于电子可靠性设计、测试、失效分析等技术及可靠性工程技术方法论研究逾26年;

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01

误区一:用函数型实验验证统计型结果

 

 

你是否曾经这样做过:

生产线上每天约有 1% 的电路板疑似被电源损伤,于是用万用表对 5 个工位各测 3 次电压,结果全都正常,于是你认为「没问题」?

这其实是典型的统计型与函数型混淆问题。

·函数型因果:中午吃 5 碗饭 → 肚子撑(确定性结果)

·统计型因果:某人外出散步 2 小时 → 苏州交通事故率(机率性结果)

 

当你用有限的、确定性的测试时间(例如 150 秒)去验证一个仅有 1% 概率发生的事件(约 288 秒),在数学上几乎不可能碰到异常。

 

✅ 改进方法:改用长时间监测,例如用示波器持续监测数天,才能真正捕捉到瞬态异常。

 

 

02

误区二:系统测试“想当然”地全覆盖

 

 

想象一下:有人把一粒米藏在房间里,你只有 2 小时要找到它,你会怎么做?

 

如果你只是「尽量多翻几个地方」,几乎不可能找到。真正的全覆盖测试,必须做到分解与结构化。

 

同样地,很多测试号称「系统全覆盖」,但其实只是随机抽测几个点,远未触及所有关键节点。

 

✅ 改进方法:采用系统性分解方法,逐层分析每个子系统、模块、信号路径,真正做到结构化覆盖。

 

 

03

误区三:过度依赖黑盒测试,忽略其他验证手段

 

 

黑盒测试有天然的局限性。

 

例如以下这段简单的代码结构:

 

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黑盒测试往往只能覆盖约 1/3 的逻辑路径,剩下的边界条件、异常分支、状态耦合等,几乎测不到。

 

✅ 改进方法:结合以下四种手段,才能真正做到完整验证:

 

·工程计算(如概率估算、容差分析)

·规范审查(设计规范、业界标准)

·电子仿真(高速信号、热、时序等)

·全覆盖模拟测试(结构化、系统化)

 

 

04

总结:完整测试=多维度互补

 

武晔卿工程师强调:

 

工程计算 + 规范审查 + 电子仿真 + 全覆盖模拟测试 = 完整测试

 

可靠性测试不是「越多越好」,而是「越对越好」。避开这三大误区,你的测试用例才能真正为产品质量把关。

 

05

PPT讲稿分享

 

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