论坛精彩讲稿回顾|电子系统可靠性测试用例设计误区

可靠性测试并不是越多越好，方向错了，数据再多也白搭。

在近日举行的「2024 可靠性应用技术国际论坛」上，瑞迪航科（北京）技术有限公司的武晔卿工程师分享了《电子系统可靠性测试用例设计误区》的主题演讲，直击当前测试设计中的常见错误思维，令人茅塞顿开。

本文将为你提炼演讲中的三大核心误区与解决思路，帮助你避开测试设计的“暗礁”。

电子系统可靠性测试用例设计误区

武晔卿；

研究员；

电子可靠性技术专家；

瑞迪航科（北京）技术有限公司 总经理；

专注于电子可靠性设计、测试、失效分析等技术及可靠性工程技术方法论研究逾26年；

你是否曾经这样做过：

生产线上每天约有 1% 的电路板疑似被电源损伤，于是用万用表对 5 个工位各测 3 次电压，结果全都正常，于是你认为「没问题」？

这其实是典型的统计型与函数型混淆问题。

·函数型因果：中午吃 5 碗饭 → 肚子撑（确定性结果）

·统计型因果：某人外出散步 2 小时 → 苏州交通事故率（机率性结果）

当你用有限的、确定性的测试时间（例如 150 秒）去验证一个仅有 1% 概率发生的事件（约 288 秒），在数学上几乎不可能碰到异常。

✅ 改进方法：改用长时间监测，例如用示波器持续监测数天，才能真正捕捉到瞬态异常。

想象一下：有人把一粒米藏在房间里，你只有 2 小时要找到它，你会怎么做？

如果你只是「尽量多翻几个地方」，几乎不可能找到。真正的全覆盖测试，必须做到分解与结构化。

同样地，很多测试号称「系统全覆盖」，但其实只是随机抽测几个点，远未触及所有关键节点。

✅ 改进方法：采用系统性分解方法，逐层分析每个子系统、模块、信号路径，真正做到结构化覆盖。

黑盒测试有天然的局限性。

例如以下这段简单的代码结构：

黑盒测试往往只能覆盖约 1/3 的逻辑路径，剩下的边界条件、异常分支、状态耦合等，几乎测不到。

✅ 改进方法：结合以下四种手段，才能真正做到完整验证：

·工程计算（如概率估算、容差分析）

·规范审查（设计规范、业界标准）

·电子仿真（高速信号、热、时序等）

·全覆盖模拟测试（结构化、系统化）

武晔卿工程师强调：

工程计算 + 规范审查 + 电子仿真 + 全覆盖模拟测试 = 完整测试

可靠性测试不是「越多越好」，而是「越对越好」。避开这三大误区，你的测试用例才能真正为产品质量把关。