WaferPro Express 晶圆在片测量程序软件是支持晶圆级测量和编程测试的软件，可与各种仪器和晶圆探头搭配使用。WaferPro Express 软件能够对晶体管和电路元件等半导体器件执行自动晶圆级测量，并能提供完整的驱动程序和测试例程，以支持各种仪器和晶圆探头。其全新的用户界面使设置和运行复杂的晶圆级测试方案变得非常简单，同时新的 Python 编程环境能够支持强大的定制功能。

制造商

KEYSIGHT TECHNOLOGIES 是德科技 美国

主要功能 DFT/芯片测试

软件类型 商业软件

部署方式 本地部署

操作系统 Windows | Linux

特点与优势

1、拥有全套测试算法和仪器驱动程序，可以缩短软件学习时间，加快测量系统的设置过程，让您更快开始首次测量。

2、现代化和直观的用户界面使您可以快速连接仪器，并确定测试计划。为了进一步提高效率，该软件还与 Cascade Microtech Nucleus 和 WinCal XE 软件相集成，以便无缝进行探测台控制和自动射频校准。

3、与 Cascade Microtech 的最新控制软件 Velox 2 进行了独家整合。WaferPro Express 和 Velox 之间的全新 WaferSync 接口能够支持完整的晶圆映射同步功能，并能在测试方案执行期间，自动监测射频校准。

4、当您需要高效处理大量数据时，Data Display、Wafer Mapping Data Viewer 和 SQL 数据库等先进工具可以显著提高生产率。此外，Python/PEL 编程环境使您可以定制测试算法和分析测量数据。

5、WaferPro Express 现在是先进低频噪声分析仪（A-LFNA）的正式软件平台。先进低频噪声分析仪是一种为了进行精确且可重复的低频噪声测量而设计的高性能噪声分析仪。

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PathWave WaferPro Express 晶圆在片测量程序软件功能与配置

集中了解PathWave WaferPro Express 晶圆在片测量程序软件的产品介绍、版本配置、功能模块、新版发布以及系统与硬件要求，便于快速判断产品能力和部署条件。

软件介绍

关于 PathWave WaferPro Express

WaferPro Express 是是德科技（Keysight）专为高效执行自动化晶圆级测量而设计的软件平台，可对晶体管、电路元件等半导体器件进行自动晶圆级测量。软件驱动是德科技（及部分非是德科技）仪器与探针台控制软件（含温度控制），并提供强大的数据处理与显示能力，显著降低晶圆级测量系统的复杂度，简化测试方案的设置与执行。

核心能力

完备的测量算法与驱动：内置全套测试算法与仪器驱动（支持 S 参数、噪声系数、增益压缩、双音互调失真等），并兼容 IC-CAP 测试例程导入，缩短学习曲线、加快系统搭建，更快获得首次测量结果。
直观界面与探针台集成：现代化界面便于快速连接仪器并制定测试计划；与 Cascade Microtech 的 Nucleus、WinCal XE 集成，实现无缝的探针台控制与自动射频校准。
WaferSync 双向联动：与 Cascade Microtech Velox 2.0 探针台控制软件独家整合，通过 WaferSync 接口实现完整晶圆映射同步（对齐、位点与芯片信息）；测试方案执行期间自动监测射频校准稳定性，失准时暂停并通知用户。
大数据处理与定制：Data Display、Wafer Mapping Data Viewer 与 SQL 数据库等工具显著提升大批量数据处理效率；Python/PEL 编程环境可定制测试算法并分析测量数据，并支持部分测试方案重跑。
低频噪声平台：WaferPro Express 是先进低频噪声分析仪（A-LFNA）的正式软件平台，新增 A-LFNA 测量模块，可对整片晶圆的器件噪声进行精确、可重复的采集。