OptiLayer 能够评估各种光学薄膜特性:
• S 偏光,P 偏光及非偏光的反射率,透射率,吸收率;
• 反射及透射引起的 S 偏光和 P 偏光相移;
• 反射和透射的相位差;
• 透射及反射光的群延迟(GD)及群延迟色散(GDD);
• 用户自定义的特性,例如,S 和 P 偏光反射/透射之间的差值;
• 椭偏角 psi(Ψ)和 delta(Δ);
• 膜内电场分布;
• 导纳图。所有特性都能够从基底的正面后背面开始评估。能够采用几乎所有现有的颜色坐标系统,以任意光源和探测器,任意偏振态的反射或者透射光,来计算薄膜的颜色坐标及其它颜色特性。这些颜色坐标系统包括:CIE XYZ 1931, CIE YUV(UCS 1960), CIE LUV, CIE LAB, CIE YU’V ’(UCS 1976), Hunter Lab, 主/互补波长和激发纯度等。
OptiLayer 提供与各种颜色坐标系统相对应的色彩图,包括:CIE xyz(1931),CIE UCS(1976),CIE C*hs(uv)及 CIE H0LC。你可以在不同色彩图以及包含颜色坐标数值的电子表格之间切换。可以根据指定的角度范围,在图表上绘制颜色坐标轨迹。
OptiLayer 能 够 计 算相关 色 温 (CCT)和显色性(CRI)。最多可以对 14 个样本进行 CRI 评估。可利用 CIEDE2000 色差公式进行颜色分析。基于其先进的数学算法,OptiLayer 是唯一能够精确评估和设计含有群延迟和群延迟色散特性薄膜的软件。它使得 OptiLayer 成为超快膜系(色散镜,输出耦合器等)设计的强大工具。这也为40Gb/s 和 Tb/s 高速传输中的薄膜 WDM 技术提供了强有力的分析能力。
结合其出色的设计能力和独特的 WDM 分析选项,OptiLayer 成为了 WDM 新技术开发方面最优秀的工具。
OptiLayer 能够对顺序堆叠的基底/介质的光谱特性进行评估,并且可以选择在介质之间增加膜层。每个基底/介质可以是平行(所有反射光都需要考虑)或者带楔角的(反射光偏离光路,不需要考虑)。
各种评估模式都有一系列方便实用的选项,你可以:
• 计算任意光谱或者(和)角度范围内薄膜特性的平均值;
• 找到指定光谱和角度范围内各个特性的最大最小值;
• 为一系列广泛使用的谱权重函数或者用户自定义的权重函数计算光谱特性的加权值;
• 从评估图上的任意坐标点拾取准确的数值;
• 以最方便的方式改变图表的外观和数量;
• 打开数个独立的评估窗口用于绘制不同刻度和范围内的特性图。
OptiLayer 给出了:
• 导纳图,
• 膜内电场图,
• 物理/光学厚度上的消光系数和折射率图,
• 柱状图形式的折射率分布。