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产品综述
Transient Tester SI:新一代热瞬态测试仪,用于半导体分立器件的先进热特性测试仪,同时用于测试复杂多核IC、TTV芯片等的热特性。
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关键特性
T3Ster SI根据客户的需求而量身定制:
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软件可用性优化
T3Ster SI在软件上旨在通过简化测量设置来改善用户体验:
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硬件可用性优化
T3Ster SI一个标准机架最多可容纳10个插入单元(Plug in Units)
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支持三极器件的测试模式
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Simcenter T3Ster SI软件界面
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技术优势
T3Ster SI设备现在能够自动选择适当的测量范围和参考电压:
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应用对象