贝思科尔- 用T3ster进行Mosfet器件结壳热阻测试视频案例

热阻是衡量功率 Mosfet 器件散热能力的重要参数，对其准确测试与分析具有重要的现实意义，对于功率 Mosfet 器件来说，较小的器件热阻变得越来越关键，并且对半导体制造商来说小的热阻意味着强的市场竞争力。
本视频重点介绍MicRED T3Ster热阻测试仪量测功率Mosfet器件热特性测试方法、实际操作、数据后处理等，并通过对相关测试过程细节方面详细描述，最终让大家系统了解T3ster量测Mosfet的结壳热阻值以及结构函数分层的整个过程。