Synopsys Inc. 新思

YieldExplorer将物理设计流程、晶圆制造和晶圆及芯片级检测等不同来源的相关良率数据集中到一个单独的数据库。作为SynopsysTetraMAX诊断解决方案的补充，YieldExplorer及时解决了当今产品工程设计团队面临的复杂难题。用户可以使用尽可能广泛的数据，从而能够在面对系统局限因素时执行无可匹敌的根本原因分析。现在很容易就能将ATE测试结果一边与晶圆参数数据相关联，一边与DRC标记或时钟分配相关联。

Synopsys的Odyssey产品系列包括多个组成部分，可满足半导体晶圆制造的特殊要求。OdysseyDefect是经生产验证的缺陷数据管理解决方案，全球逾35个制造工厂选择了此方案。Odyssey也是一个完整的在线良率管理系统，可分析半导体生产和测试数据，从而快速地找出影响良率的设备和生产过程。

YieldManager是一款可定制的良品率管理软件系统。它使得工程师们能够快速收集、关联、分析和共享关键数据，以帮助集成电路(IC)制造商实现并保持高良品率。其数据类型包括缺陷、检查、bin排序、位元图、参数、MES和最终测试。YieldManager既能保持不同数据源的高度一致性，又能实现快速的数据提取，以加速查找根本原因，可有效节省工程时间并集中资源。利用统一数据库，YieldManager无需维护晶圆厂内的多个客户端-服务器应用。这一系统为晶圆制造提供了单一、稳健、经行业验证的解决方案，从而简化了IT基础架构并降低了基础架构成本。