G-FDC是格创东智面向半导体与泛半导体制造场景打造的新一代设备故障侦测与分类系统(FDC),基于大数据与高可用架构构建,融合AI智能分析能力,实现设备数据实时采集、异常侦测、工艺监控、异常分析与OCAP闭环管理。  系统支持高频数据采集、多维统计建模、实时告警与多变量异常分析,可广泛应用于晶圆制造、封装测试、面板制造、化合物半导体等场景,帮助企业提升设备OEE、工艺稳定性与产品良率。
适用行业 软件/信息技术
软件类型 商业软件
授权形式 永久授权 | 订阅
部署方式 本地部署
操作系统 Windows | Mac
功能标签 FDC

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