面向半导体制造的统计过程控制（SPC）系统
格创东智统计过程控制（SPC）系统是格创东智推出的品质管理工具，整合企业品质管理需求，打破各系统壁垒，实现数据整合，构建自动侦测、自动监控、自动反馈、自动控制的闭环品质控制体系，为品质稳定保驾护航，助力打造半导体制造数字化智能化工厂。
在功能覆盖方面，系统打通各软件间壁垒，实现数据整合，构建数据采集、监控分析、预警联动、异常处理、持续改善的品质闭环控制体系，实现系统数据交互与多维度统计分析。
在数据接入方面，系统具备多样化系统接口、支持多样化数据采集，全方位覆盖品质数据来源；基于客户需求建立Online、Offline、原辅料等模型，完美匹配客户的业务场景；通过人机料法环等多维度统计监控分析，逐步丰富监控模型、调整监控维度，实现持续改善。
在监控能力方面，系统提供多种可选管制界限（ABL、Spec、Control limit、Warning limit），丰富的控制图类型（Raw、Mean、Range、StdDev、MR、n、np、c、u chart），支持AVG、STD、OCAP%、Ca、Cpk、Ppk等指标计算，并内置8条标准WECO rule和Nelson rule，rule系数可自定义。
在实时预警方面，系统支持预警实时发送、异常自动hold，联动MES触发OCAP流程；支持保存常用查询模板、设定定时任务输出数据查询结果，帮助品质与工程人员及时掌握过程波动并快速响应。
格创东智统计过程控制（SPC）系统适用于半导体、面板、电子等对过程稳定性要求高的制造企业，帮助企业建立从数据采集、过程监控到异常处置的闭环品质控制体系。
