格创东智统计过程控制（SPC）面向半导体等制造企业的质量管控，向下接入机台、量测设备与厂务系统的实时数据，向上与 MES、EAP、QMS 等系统联动，形成数据采集、监控分析、预警联动、异常处理与持续改善的闭环。产品提供计量与计数型控制图、过程能力指标计算与判异规则配置，支持管制界限自定义与异常联动处置。

制造商

格创东智科技有限公司 广东 > 深圳

主要功能 SPC统计过程控制

适用行业 工业机械与装备/工业零部件 | 电子/电器/电气设备/仪器仪表

软件类型 商业软件

授权形式 永久授权

部署方式 本地部署

操作系统 Windows

特点与优势

1、全流程功能覆盖，为SPC管理赋能

打通各软件间壁垒，实现数据整合，构建数据采集+监控分析+预警&联动+异常处理+持续改善的品质闭环控制体系。

2、多样化数据接入，任意类别建模

具备多样化系统接口、支持多样化数据采集，全方位覆盖品质数据来源。基于客户需求建立Online/Offline/原辅料等模型，完美匹配客户的业务场景。

3、多种可选管制界限，丰富管控指标

管制界限可选ABL/Spec/Control limit/Warning limit 。丰富的控制图类型：Raw ,Mean, Range, StdDev, MR，n, np, c, u chart。指标计算：AVG , STD , OCAP% , Ca , Cpk , Ppk, ect. 管控Rule：8条标准WECO rule和Nelson rule，rule系数可自定义

4、实时监控&预警，定时任务输出

预警实时发送，异常自动hold，联动MES触发OCAP流程。保存常用查询模板，设定定时任务数据查询结果

格创东智统计过程控制SPC正版代理商与厂商报价

格创东智统计过程控制SPC正版购买建议优先联系认证厂商、授权代理商或具备服务能力的供应商，结合所在地区、响应速度、授权方式和实施支持获取实际采购报价。

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格创东智统计过程控制SPC功能与配置

集中了解格创东智统计过程控制SPC的产品介绍、版本配置、功能模块、新版发布以及系统与硬件要求，便于快速判断产品能力和部署条件。

软件介绍

面向半导体制造的统计过程控制（SPC）系统

格创东智统计过程控制（SPC）系统是格创东智推出的品质管理工具，整合企业品质管理需求，打破各系统壁垒，实现数据整合，构建自动侦测、自动监控、自动反馈、自动控制的闭环品质控制体系，为品质稳定保驾护航，助力打造半导体制造数字化智能化工厂。

在功能覆盖方面，系统打通各软件间壁垒，实现数据整合，构建数据采集、监控分析、预警联动、异常处理、持续改善的品质闭环控制体系，实现系统数据交互与多维度统计分析。

在数据接入方面，系统具备多样化系统接口、支持多样化数据采集，全方位覆盖品质数据来源；基于客户需求建立Online、Offline、原辅料等模型，完美匹配客户的业务场景；通过人机料法环等多维度统计监控分析，逐步丰富监控模型、调整监控维度，实现持续改善。

在监控能力方面，系统提供多种可选管制界限（ABL、Spec、Control limit、Warning limit），丰富的控制图类型（Raw、Mean、Range、StdDev、MR、n、np、c、u chart），支持AVG、STD、OCAP%、Ca、Cpk、Ppk等指标计算，并内置8条标准WECO rule和Nelson rule，rule系数可自定义。

在实时预警方面，系统支持预警实时发送、异常自动hold，联动MES触发OCAP流程；支持保存常用查询模板、设定定时任务输出数据查询结果，帮助品质与工程人员及时掌握过程波动并快速响应。

格创东智统计过程控制（SPC）系统适用于半导体、面板、电子等对过程稳定性要求高的制造企业，帮助企业建立从数据采集、过程监控到异常处置的闭环品质控制体系。