格创东智统计过程控制（SPC）系统是格创东智科技有限公司面向泛半导体及高端制造行业推出的品质管控解决方案。系统深度贴合行业特性，构建“数据采集 → 监控分析 → 预警联动 → 异常处理 → 持续改善”的完整 PDCA 闭环：向下贯通机台传感器、量测设备、厂务系统等实时数据，实现全要素质量数据接入；向上联动 MES（制造执行系统）、EAP（设备自动化系统）、QMS（质量管理系统），形成异常处置的闭环链路，让每一个工艺参数都成为可追溯、可分析、可优化的品质依据。
全链条数据接入
系统支持与 MES、EAP、WMS 及厂务等系统深度交互，通过接口自动采集、文件解析（txt、Excel、CSV）与自定义录入等多样化方式，实现 IQC（进料检验）、IPQC（制程检验）、OQC（成品检验）、STC（出货检验）的全流程数据覆盖，打破数据孤岛，让每一个质量关键特性参数都能被精准捕捉。
丰富的控制图与管控指标
系统涵盖 Xbar、S、R、X、MR、P、NP、C、U 等多种计量型与计数型控制图，实时计算 CA、Cpk、Ppk、CpmK、Abnormal Ratio 等过程能力指标，并提供箱线图、样本对比图、趋势图等可视化统计分析图表。管制界限可选 ABL、Spec、Control limit、Warning limit，内置 8 条标准 WECO 判异规则与 Nelson rule，规则系数可自定义，全方位解析工艺过程状态。
实时监控与预警联动
系统支持批量配置规格标准与管控规则，内置智能算法自动更新管制限，动态适配产线能力变化；与 MES 高度集成，异常发生时自动触发机台与批次 Hold 机制，避免缺陷扩散。预警实时发送，异常自动 Hold 并联动 MES 触发 OCAP 流程，同时支持保存常用查询模板、设定定时任务输出数据查询结果，让品质异常得以及时捕捉与快速处置。
行业应用场景
系统广泛应用于半导体芯片、显示面板、封装测试、光伏切片等行业：在半导体芯片领域用于曝光、薄膜、扩散、刻蚀等关键工序品质数据稳定性分析与监控；在显示面板领域用于 Array、CF、Cell 模组参数管控、OCAP 处理与能力统计；在封装测试领域用于固晶、焊线、模压、切割等工艺关键性能指标的 Cpk 统计与管控；在光伏切片领域用于产品、过程、设备、原辅料数据监控与能力分析。
应用价值
依托格创东智在半导体行业积累的深厚 know-how 与 AI 驱动能力，格创东智SPC 已落地 50 余个案例。系统上线后帮助企业实现产品品质异常及时捕捉，增强异常监控能力，降低不良成本，提升产品良率，并通过丰富多样的控制图及报表功能，助力客户数据分析、制程能力提升与品质持续改善。
