Tanner ASIC 功能模块说明

模块概览

Tanner ASIC 是西门子数字工业软件(原 Tanner EDA)推出的集成电路设计工具集(现以 Custom IC 设计流程延续),用于自定义集成电路、模拟/混合信号(AMS)与数字 ASIC 的设计。流程由高度集成的后端与前端工具构成,从原理图捕获、混合信号仿真、波形分析到物理版图与代工厂兼容的物理验证,支持学生在 Windows 与 Linux 等平台完成从设计到验证的全流程。

原理图捕获

S-Edit 提供原理图捕获能力,支持复杂电路原理图编辑与参数化设计,可通过基于其他电路参数的公式定义与评估设计参数,为前端设计提供灵活的建模环境。

电路仿真与波形分析

T-Spice / SmartSpice 提供电路分析与仿真能力,覆盖模拟与混合信号仿真;W-Edit 用于展示仿真结果波形,支持对瞬态、交流与直流等仿真数据进行可视化分析,辅助设计调试与验证。

物理版图设计

L-Edit 提供版图编辑能力,支持全定制版图绘制、自动布局布线以及版图绕线,并具备设计规则检查与电路转换等功能,是构建物理版图的核心模块。

物理验证

提供铸造厂兼容的物理验证能力,支持设计规则检查(DRC)与版图对原理图一致(LVS)校验,并可集成 Calibre 等工具完成可制造性验证,确保版图满足量产要求。

寄生参数与后仿真

通过 HiPer Parasitics 等能力进行寄生抽取,结合 HiPer Silicon 进行布线优化与成品率/时序相关优化,支持在设计流程中进行寄生相关分析与迭代优化。

MEMS 与平台支持

提供 L-Edit MEMS 设计流程,面向三维微机电系统(MEMS)的设计与制造支持,并可与模拟/混合信号电路集成;工具集同时支持 Windows 与 Linux 平台,适应多样化的设计与教学环境。

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