借助于锥光干涉图可以测量晶体的光轴方向和双折射率等。一般的做法是需要将繁杂的干涉场理论计算付诸于自行编程才能得到模拟结果， 程序代码复杂。但是， 如果借助于已经经过时间证实且成为工业界标准的、可进行散射效应、衍射效应、反射效应、折射效应、光吸收效应、 偏振光效应和高斯光束传导等光学仿真分析的高级系统分析程序 (Advanced System Analysis Program ， ASAP)， 通过编写和运行简单的 ASAP 命令脚本来模拟单轴晶体锥光干涉的方法，将更为快捷和准确。
最新版本V7版本的主要特性之一：
通过ASAP能够模拟出任意光轴取向及各种参数条件下的单轴晶体锥光干涉图，这是一种程序易编、参数易调、结果即时呈现的行之有效的方法。 只需更改相应命令语句中的数值，就能实现对晶体光轴方向、光束发散角、晶体厚度、入射波长以及起、检偏器夹角等参数的更改， 方便快捷地 (从运行到给出结果，整个过程不足 10 s) 获得不同参数条件下的各种锥光干涉图，并据此分析锥光干涉图样的特征及其变化规律。
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