Calibre LFD和Synopsys Yield Explorer有什么区别

软服之家基于其丰富和专业的的软件数据库，为您提供多个软件在基础信息、功能配置、参考价格、软件界面、特色优势、典型客户、供应商等方面的对比，帮助您选择合适的软件。 本次参与对比的软件包括： Calibre LFD  、   Synopsys Yield Explorer

icon基础信息
功能分类 芯片制造良率分析 芯片制造良率分析 - -
产品简介

Calibre LFD 工具可捕获设计对制造工艺窗口效应的响应，使工程师能够在流片之前识别和修复可变性、可靠性和制造良率问题。Calibre LFD 工具提供了一个虚拟晶圆厂，可预测“制造时”光刻工艺的可变性对设计的影响。

Yield Explorer 将物理设计流程、晶圆制造和晶圆及芯片级检测等不同来源的相关良率数据集中到一个单独的数据库。作为 Synopsys TetraMAX 诊断解决方案的补充，Yield Explorer 及时解决了当今产品工程设计团队面临的复杂难题。用户可以使用尽可能广泛的数据，从而能够在面对系统局限因素时执行无可匹敌的根本原因分析。现在很容易就能将 ATE 测试 结果一边与晶圆参数数据相关联，一边与 DRC 标记或时钟分配相关联。

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制造商Siemens Digital Industries Software 西门子数字工业软件Synopsys Inc. 新思 - -
原产地德国 > 慕尼黑美国 > 旧金山 - -
授权方式 - - - -
发布时间2024年2024年 - -
详情
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icon功能配置
功能模块-- - -
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icon参考价格
价格-- - -

icon软件界面
界面-- - -

icon特点优势
特点

1.识别制造工艺窗口中的缺陷

在 DRC 清洁设计中准确识别工艺窗口条件下的特定制造故障和良率抑制因素。

2.减少过程可变性以优化性能

通过精确计算的制造感知型设计可变性指数指导设计权衡决策，以降低产品布局对过程可变性的敏感性。

3.先进的机器学习技术缩短了运行时间

集成的高级机器学习技术可产生准确的结果，并显著改善运行时间。

1.跨站点参数、设计、物理验证、仿真、产品测试和定制数据源的复杂关联

2.同步组件构架集成所有引入数据形成独立而连贯的分析

3.图表和电子表格与晶圆图以及失败的设计净覆盖项交互呈现

4.动态可扩展的数据模型允许向 Yield Explorer 数据库加载任何数量的定制数据字段

5.平台中立性分析客户端（Windows、Linux、UNIX）允许所有用户使用相同的应用，而不考虑桌面计算环境。
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icon典型客户
客户-- - -

icon软件供应商
供应商 - -

注：软件功能配置信息仅供参考，实际功能配置信息以真实软件为准，解释权归软件制造商所有。