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Ansys Pharos 以高精度和快速周转时间分析大块和 SoC 中的电磁串扰。它将高效的 EM 提取引擎能力与专有仿真引擎相结合,以执行耦合分析。Pharos 分析选定的受害网络与设计中所有潜在攻击者之间的电磁隔离。它返回所有潜在 EM 串扰攻击者网络的排名,从最强到最弱。Pharos 提供覆盖布局的“热图”,以显示 EM 串扰强度的颜色渐变。
Ansys Pharos包括一个大规模的并行、频域SPICE求解器,可以模拟具有数百亿元素的网表的交流响应。
Pharos既可以在块级进行分析,又可以在SoC级进行signoff。
在区块级别,Pharos分析一个区块或一组区块,并报告与攻击者/受害者对之间的EM和底物串扰相关的风险。这些网络可能是不同模块甚至设计层次结构的一部分。
作为一种签核工具,Pharos会分析整个SoC,并通过与设计的敏感部分紧密耦合的攻击者网络报告EM串扰的风险。这些网络已标记为需要重新设计,以促进EM感知signoff ECO。
Pharos提供各种报告,包括受害者/攻击者网络对的排名列表及其潜在的串扰干扰值。可以使用脚本对文本报告进行后处理,以从分析数据中提取更多有意义的信息。
Pharos还会在布局的“热图”中提供结果。它显示了一个梯度,该梯度取决于每个攻击者与受害者之间的EM串扰强度,以及两个色标(红色用于高耦合,蓝色用于低耦合)以突出显示通过/失败攻击者网络。
Ansys Pharos具有分析2.5D/3D多模封装的能力,包括封装层对设计性能的影响。