软件说明
产品定位
YieldManager 是一款可定制的良品率管理软件系统,帮助工程师快速收集、关联、分析和共享关键数据,以支持集成电路(IC)制造商实现并保持高良品率。其数据类型涵盖缺陷、检查、bin 排序、位元图、参数、MES 与最终测试等。
核心功能
- 统一数据库:采用单一统一数据库实现完整的晶圆厂解决方案,无需维护晶圆厂内多个客户端-服务器应用。
- 加速根本原因分析:提升各晶圆厂数据类型的一致性,区分良率问题症状与可能的根本原因。
- 自动化分析:通过 VB 脚本记录、编辑与执行分析过程,报告可定制并输出为 HTML、PowerPoint 等多种格式。
- 数据安全:采用三层系统方法提供强大而多样的工具控制数据流。
产品特点
YieldManager 在保持不同数据源高度一致性的同时实现快速数据提取,有效节省工程时间并集中资源;通过统一的数据库简化 IT 基础架构、降低基础架构成本,为晶圆制造提供单一、稳健、经行业验证的良率管理解决方案。
应用价值
广泛用于晶圆代工与集成电路制造的良率管理与数据分析,帮助工程师高效整合多源数据、定位良率问题根源,支撑高良率量产与持续改进。
典型分析流程
晶圆厂把缺陷、检查、bin 排序、位元图、参数、MES 与最终测试等数据采集并汇入 YieldManager 的统一数据库,工程师通过图形化界面快速关联不同环节数据并执行自动化脚本分析;当发现良率下降时,结合数据一致性与交叉关联缩小根本原因范围,并生成定制报告输出与共享,支撑持续改善。
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