产品定位
Match!是一款使用粉末衍射数据进行相分析的软件。它将样品的衍射图案与包含参考图案的数据库进行比较,以确定存在的相位。关于样品的其他知识,如已知的相、元素或密度也可以很容易地应用。除了这种定性分析,还可以进行定量分析(使用 Rietveld 精化)。通过 Match!可以很容易地设置和运行 Rietveld 精修,可以在后台使用著名的程序 FullProf(由 J.Rodriguez Carvajal 编写)自动执行实际计算。
核心功能
- Rietveld 精修:可以很容易地设置和运行 Rietveld 精修,在后台使用 FullProf 自动执行实际计算。
- 显示和比较多个衍射图:支持同时显示和比较多个衍射图。
- 批处理和自动处理:支持批处理和自动处理,提高分析效率。
- 微晶尺寸估算:支持微晶尺寸估算。
- 定性和定量分析:支持定性和定量分析。
- 米勒指数显示:在衍射图和输入数据表中显示米勒指数。
应用场景
Match!适用于粉末衍射数据的相分析场景。材料研究人员可借助其将样品的衍射图案与参考图案数据库进行比较,以确定存在的相位,并进行定性和定量分析,用于材料物相鉴定、晶体结构分析与质量控制,是粉末衍射分析领域的常用软件。
技术特点
Match!将样品的衍射图案与包含参考图案的数据库进行比较,以确定存在的相位,关于样品的其他知识如已知的相、元素或密度也可以很容易地应用。通过 Match!可以很容易地设置和运行 Rietveld 精修,在后台使用 FullProf 自动执行实际计算。
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