量子阱和势垒有效质量(twlm。定义在Lumerical TWLM激光模型中的QW_eff_mass和TWLM.qb_eff_mass) ? 它们只是这些材料中的电子有效质量吗?

这些有效质量数用作热离子泄漏模型中的参数，以计算屏障上的载流子逃逸率。除了有效质量之外，对热离子发射（即逃逸率）很重要的另一个参数是势垒高度。逃逸率可以在量子阱（QW）和SCH势垒中定义。总逃逸率为：
1/tau_escape=1/tau_escape_electron+ 1/tau_escape_hole
由于通常一个项占主导地位，用户可以定义电子或空穴的有效质量和势垒高度，具体取决于哪个泄漏更占主导地位。对于QW逃逸率，使用的参数是QW有效质量和势垒高度，而对于SCH逃逸，重要参数是量子势垒（QB）有效质量和SCH势垒高度。
此外，一旦您根据上述解释决定是需要电子还是空穴有效质量，您就可以使用我们的电气材料数据库，创建III-V族合金材料作为半导体，并在对象树中的材料属性中检查有效质量值。或者，您可以使用自己的有效质量值来计算量子阱和势垒中的给定材料。