Simcenter Micred T3STER 是一款先进的无损瞬态热测试器,通过测试施工现场的元件,对封装半导体装置和多晶片装置进行热特性分析。该测试器能够比稳态方法更有效地测量真正的热瞬态响应。结构函数对响应进行后处理,将其绘图以显示封装特征在热流通道上的热阻值和电容量。也是一款理想的前处理和后处理应力失效检测工具,测量结果可导出用于热模型校准,从而增强热设计工作的准确性。

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