可测试性设计
为了解决测试的问题，人们设计了多种测试方案和测试结构，提出了可测性设计(DFT)。可测性设计需要在电路设计之初就考虑测试的问题，将可测试设计作为逻辑设计的一部分加以设计和优化。可测性设计的目的是要实现电路的可测量性、可控制性和可观察性。良好的可观察性和可控制性能提高测试效率，在相对较少的测试向量下能够得到高的故障覆盖率。
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易测性分析系统TeboTA

深圳市腾博恒信科技有限公司       TestabilityAnalysis（易测性分析系统）是可测试性设计DFT(DesignForTestability)中，为设计提供准确合理的测试点Layout及测试成本控制的最有效的工具软件之一。
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LabVIEW

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LabVIEW​简化​了​硬件​集成，​使​您​能够​快速​采集​和​可​视​化​几乎​任何​I/​O​设备​（无论​是​NI​还是​第三​方）​的​数据​集。​LabVIEW 2017​采用​图形​化​编​程​语法，​可​缩短​编​程​时
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