为了解决测试的问题，人们设计了多种测试方案和测试结构，提出了可测性设计(DFT)。可测性设计需要在电路设计之初就考虑测试的问题，将可测试设计作为逻辑设计的一部分加以设计和优化。可测性设计的目的是要实现电路的可测量性、可控制性和可观察性。良好的可观察性和可控制性能提高测试效率，在相对较少的测试向量下能够得到高的故障覆盖率。